CTI华测检测诚邀您出席半导体高功耗芯片测试能力宣讲会
287伴随着国内科技的不断发展，我们对芯片功能的要求也在不断的提高，芯片内部的晶体管也越来越多，功耗越来越高，本次华测半导体芯片研讨会主要针对大功耗AECQ项目及失效分析和硬件测试方面和各位来宾进行深入探讨。在此，我们诚邀您出席，衷心感谢您的支持与指导。
讲师介绍
郑宜明Jacky
专精于动态失效分析、失效分析、静电防护能力测试、可靠性实验等验证领域，拥有二十多年验证与实验室建置管理经验及二十五半导体产业经验
陈志荣Phil Chen
半导体从业26年
专长:半导体制程研发/材料分析/失效分析/产品良率提升
黄智伟Howard
近20年电子产品/芯片半导体可靠性验证分析技术工程工作
多家终端车厂及Tier one供货商AEC-Q系列课程讲师
多家国内3rd Party及OSAT可靠性测试实验室管理管理工作
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