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汽车电子芯片,分立器件,光电元器件,传感器,多芯片模组,被动元器件等车用电子、零部件的可靠性认证(AEC-Q100、101、102、103、104、200)
车用电子主要依据AEC作为车规验证标准,AEC目前主要是针对车载应用,汽车零部件,汽车车载电子实施标准规范,建立质量管理控制标准,提高车载电子的稳定性和标准化。
提供完整的半导体产品芯片可靠性试验项目,协助客户通过JEDEC、MIL—STD、AEC-Q等可靠性国际试验标准
提供完整的半导体产品可靠性试验项目,包含技术整合咨询、实验设计规划、硬件设计制作、可靠性试验、寿命预估等一站式服务,协助客户通过JEDEC、MIL—STD、AEC-Q等可靠性国际试验标准。
快速又准确的进行芯片失效定位与分析:EFA(电性失效分析),PFA(物性失效分析),DEFA(动态失效分析),先进工艺筛片分析(DPA)
面对数种失效模式,华测蔚思博的失效分析专家,具有丰厚的从业经验与洞察力。可替客户制定高效的芯片失效分析流程,并提供专业的失效分析诊断报告。
芯片静电ESD测试是半导体产品先期质量验证的重要关键指针,避免芯片在生产或使用过程中被静电放电所损伤,静电放电防护电路,ESD耐压能力,静电防护能力测试
芯片静电防护能力ESD测试是半导体产品先期质量验证的重要关键指针,CTI华测检测已通过CNAS/ISO17025/ISO9001资质认可,ANSI/ESD S20.20静电防护体系认证。可为您提供芯片防静电能力测试,测试数据准确可靠,实验室信息管理系统,保障每个服务环节的高效、保密运转。
集成电路芯片、分立器件、晶体管等元器件的耐湿性测试
HAST一般称为高加速温湿度应力试验或是高加速应力试验。CTI华测检测HAST测试实验室通过施加严酷的温度、湿度并提高水汽压力,水汽通过封装材料或管脚渗透,用来评价元器件在潮湿环境中的可靠性,CTI拥有专业资质、经验丰富的技术专家团队,同时可根据客户的技术需求,定制推荐合理的测试方案。