汽车芯片电子可靠性试验

业务挑战

车用电子协会(AEC，Automotive Electronics Council)为了让电子组件的验证有一个共同的参考验证内容，因此根据产品类别陆续制定了不同验证标准，让各家电子组件厂商欲进入车用市场时，有一个适当的验证基础。

在AEC的相关规范中，明确定义，没有所谓的认证(Certification)的机制，强调是属于自我宣告以及买卖双方的合约，强调产品家族观念，并且重视制程质量管控(SPC)的要求，标准严格更甚于传统以JEDEC为验证主轴的消费型产品市场。

汽车芯片电子可靠性试验

▌ AEC验证分类

1.AEC-Q系列验证分类

根据零件群组类别进行区分。其中AEC-Q103为2019年度新公告针对MEMS相关产品之测试应用，使得整体应用上更为完整。

AEC-Q系列车用电子产品验证	AEC-Q100 Integrated Circuit
	AEC-Q101 Discrete Semiconductors
	AEC-Q102 Photo-electronics
	AEC-Q103 MEMS
	AEC-Q104 MCM
	AEC-Q200 Passive Components

2.产品耐温等级

根据零件在车辆使用的位置区分为四个等级，与传统使用的JEDEC 47不同处在于，AEC定义为测试环境温度Ta，非Tj，因此相对严苛，也使得欲进行验证之厂家多了一些难度与门坎。

Grade	Ambient Operation Temperature Range
0	-40°C to +150°C
1	-40°C to +125°C
2	-40°C to +105°C
3	-40°C to +85°C

 

▌ AEC-Q系列与JEDEC 47的比较  

Description	JEDEC 47	AEC Q100
Test items	以试验项目为主	自开发至试验
Test sample size	相对较少	相对较多
Test duration / cycles	较短	较长(以使用寿命回推)
Temperature	采用产品Tj	采用环境Ta
Data collection	以承认为主	自产品开发开始
Family application	有定义	定义含括范围
Engineering change	明确定义	明确定义
Life prediction	说明较简易	明确定计算方式
SPC calculation	较少	强调应用
Pb-Free consideration	较少	纳入验证标准
DPA process	未提及	纳入验证标准
Criteria	较简易	允收规格明确

服务优势

CTI华测检测着重于半导体产品领域验证，结合失效分析、ESD静电测试、硬件设计服务、可靠性试验等，形成一个完整的服务网络，协助客户快速进入车用电子市场。除了产品质量验证外，CTI华测检测并提供教育训练与系统辅导机制，确保整个产品开发过程详实完整。

服务流程